dc.contributor | | es-ES |
dc.creator | Mayta, Alcibíades | |
dc.creator | Mayta, Alcibíades | |
dc.date | 2016-08-09 | |
dc.date | 2016-08-09 | |
dc.date.accessioned | 2017-07-28T18:28:07Z | |
dc.date.accessioned | 2017-07-28T18:28:07Z | |
dc.date.available | 2017-07-28T18:28:07Z | |
dc.identifier | http://revistas.utp.ac.pa/index.php/prisma/article/view/531 | |
dc.identifier | http://revistas.utp.ac.pa/index.php/prisma/article/view/531 | |
dc.identifier.uri | http://ridda2.utp.ac.pa/handle/123456789/2288 | |
dc.identifier.uri | http://ridda2.utp.ac.pa/handle/123456789/2288 | |
dc.description | Con la proliferación de los equipos electrónicos ocurrida en las últimas décadas se hizo patente la sensibilidad de éstos a las perturbaciones en la calidad de onda de voltaje que si bien siempre habían estado presentes, en los sistemas eléctricos, desde sus mismos orígenes, no representaban un problema realmente significativo como lo es hoy en día. | es-ES |
dc.format | application/pdf | |
dc.format | text/html | |
dc.language | spa | |
dc.publisher | Universidad Tecnológica de Panamá | es-ES |
dc.relation | http://revistas.utp.ac.pa/index.php/prisma/article/view/531/526 | |
dc.relation | http://revistas.utp.ac.pa/index.php/prisma/article/view/531/html | |
dc.relation | http://revistas.utp.ac.pa/index.php/prisma/article/view/531/526 | |
dc.relation | http://revistas.utp.ac.pa/index.php/prisma/article/view/531/html | |
dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess | |
dc.rights | https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/ | |
dc.source | 2312-637X | |
dc.source | 2076-8133 | |
dc.source | 2312-637X | |
dc.source | 2076-8133 | |
dc.source | Prisma Tecnológico; Vol. 2, Núm. 1 (2010): Revista Prisma Tecnológico; 26-27 | es-ES |
dc.subject | poemaA | es-ES |
dc.title | El Estandar IEEE 1100 Libro Esmeralda | es-ES |
dc.type | info:eu-repo/semantics/article | |
dc.type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion | |
dc.type | info:eu-repo/semantics/article | |
dc.type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion | |