Muestras en polvo y en películas delgadas del ferroeléctrico (SrBi2Ta2O9)* Bi3TiNbO9) 1-x; para x=0, 0.2, 0.4, 0.6, 0.8 y 1, fueron preparadas por método estándar de calcinación y por el método de deposición por solución metal-orgánica, respectivamente. Las películas delgadas fueron depositadas sobre substrato Pt/TiO2/SiO2/Si. El estudio por Espectroscopía Micro Raman revela que las muestras son homogéneas y presentan bandas alrededor de 174, 229, 337, 522, 608, 667 y 839 cm-1 lo cual indica la formación de la fase aurivillius en el material; aunque diferencias relacionadas al grado de cristalización fueron encontradas entre las muestras en polvo y su equivalente en película delgada. Además se presenta y discute la evolución de las bandas Raman con la inclusión del material SBT en la estructura de BTN. En adición, otras técnicas analíticas como Microscopía de Fuerza Atómica (AFM), Difracción de Rayos X (XRD) y Medición Eléctrica fueron también usadas para caracterizar las muestras y sus resultados son discutidos.